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2.1数字锁相环石英晶振的频率调整功能是靠数字锁相环(DPLL)实现的,同模拟锁相环类似,它属于闭环的控制系统,由鉴相器(PD)、环路滤波器(LPF)、D/A转换器、压控恒温晶振(OCXO)组成。系统启动后,在FPGA内部,数字鉴相器模块首先以GPS接收机输出的10kHz时钟信号作为基准源,对恒温晶振整形并经过分频后的10kHz信号进行快速鉴相,用恒温晶振倍频后的300MHz时钟对相位差进行量化,得到具体的超前或滞后数据,进而传递给环路滤波器模块,设置抖动门限参数,若相位超前或滞后量达到门限值,则迅速通过D/A转换器,对晶振的压控端电压进行相应调节。此方法可令晶振频率快速接近10MHz,但是 恒温晶振频率的改变需有一定的响应时间,快速调整压控端的电压会产生过调现象,频率稳定度不佳。

bbin糖果派对app晶体,就是晶体,Crystal,简写为XTAL。双端输出,不需供电。震荡电路在芯片内部。晶振,是晶体振荡器,CrystalOscillator,简写为XO bbin糖果派对app

。单端输出,需要供电。震荡电路在晶振内部。1.普通晶振PackagedCrystalOscillator(PXO):是一种没有采取温度补偿措施的晶体振荡器,在整个温度范围内,晶振的频率稳定度取决于其内部所用晶体的性能,频率稳定度在10-5量级,一般用于普通场所作为本振源或中间信号,是晶振中最廉价的产品。2.2电路设计D/A芯片选用TI公司TLV5616,它是低功耗单片12位串行数模转换器,分辨率为4096,该芯片采用三线制(SCLK、SYNC、DIN)串行接口,SCLK方波信号为下降沿时,TLV5616读取DIN的电平信号,转化成相应的电压送往恒温晶振,用于晶振的微调,晶振频率调整硬件电路如图4所示。

bbin糖果派对app1、每一个单独指标必须单独测试,不能同时测试几种指标,也不能同时测试几只晶振(1)直接补偿型直接补偿型是由热敏电阻和阻容元件组成的温度补偿电路,在振荡器中与石英晶振振子串联而成的。在温度变化时,热敏电阻的阻值和晶体等效串联电容容值相应变化,从而抵消或削减振荡频率的温度漂移。该补偿方式电路简单,成本较低,节省印制电路板(PCB)尺寸和空间,适用于小型和低压小电流场合。但当要求晶体振荡器精度小于±1pmm时,直接补偿方式并不适宜。。2、测试时要严格按照标准的测试电路和测试环境进行测试。3、在没有相当的测试设备和测试人员的情况下,不建议客户自行测试晶振,更不能随意调试晶振,测试设备的等级应至少比晶振指标高一个数量级。

bbin糖果派对app图5间接补偿目前的方法将补偿网络和拉网络集成到一个集成电路中(如图6所示),补偿网络的作用由一组运算放大器组成,这些运算放大器在一起产生温度上的3阶或5阶函数.与间接补偿方法一样bbin糖果派对app晶振在电气上可以等效成一个电容和一个电阻并联再串联一个电容的二端网络,电工学上这个网络有两个谐振点,以频率的高低分其中较低的频率为串联谐振,较高的频率为并联谐振。由于晶体自身的特性致使这两个频率的距离相当的接近,在这个极窄的频率范围内,晶振等效为一个电感,所以只要晶振的两端并联上合适的电容它就会组成并联谐振电路。这个并联谐振电路加到一个负反馈电路中就可以构成正弦波振荡电路,由于晶振等效为电感的频率范围很窄,所以即使其他元件的参数变化很大,这个振荡器的频率也不会有很大的变化。,该电压用于驱动变容二极管,这反过来又改变了振荡器的输出频率.由于晶体特性的变化意味着没有“一刀切”的功能,因此在TCXO的温度测试期间得出了解决方案.两个电容器阵列用于将室温下的频率调节到标称值,然后在测试期间获得温度补偿功能所需的设置并存储在片上存储器中.
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